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A Sociedade Brasileira de Metrologia (SBM) promove nesta terça-feira, 5/11, no Gran Hotel Meliá, em São Paulo, seminário sobre Metrologia e Qualidade como elementos da competitividade do setor produtivo nacional. Considerado um dos eventos referência no assunto no Brasil, o seminário terá como tema central “Estratégias para a competitividade de sua organização com base em uma política de qualidade, viabilizada pelo uso racional da metrologia como ferramenta de domínio do conhecimento”.

Durante o evento será entregue o II Prêmio Excelência em Metrologia. A organização do encontro tem apoio da Fundação CERTI (Centros de Referência em Tecnologias Inovadoras), que na primeira edição do Prêmio, realizada ano passado, teve o coordenador do seu Laboratório de Metrologia Dimensional, Gilmar Gualberto Soares, escolhido como o Metrologista Padrão do Brasil.

“Este é o mais importante evento de metrologia no Brasil, no que concerne o propósito de estabelecer o reconhecimento àqueles que se destacaram no desenvolvimento do setor”, resume Carlos Alberto Schneider, Superintendente Geral da CERTI e presidente SBM.

O Prêmio Excelência em Metrologia será outorgado em três categorias: Personalidade do Ano, Contribuição Técnico-Científica e Metrologista Padrão.

Cerca de 200 pessoas devem participar do seminário, entre executivos de empresas, dirigentes de laboratórios, planejadores da área do governo e docentes. “O seminário tem o propósito de repassar uma mensagem estratégica para os dirigentes do setor produtivo, com o objetivo de alavancar o desenvolvimento e a exportação”, completa Schneider. Mais informações no site: www.sbmetrologia.org.br